JB2010-L干法粒度分析仪

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JB2010-L干法粒度分析仪

型号: JB2010-L
产地: 上海
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型号:	JB2010-L
产地:	上海

产品介绍

品牌：久滨
型号：JB2010-L
名称：干法粒度分析仪
一、产品概述：
JB2010-L属于干法全自动激光粒度仪，被广泛应用到粉体行业，我公司针对不同行业设计了不同模板，客户可根据自己需要选择水泥模版、磨料模版等等。

智能型干粉激光粒度分析仪控制系统原理图

二、主要性能特点：
★先进的光路设计：JB2010-L采用会聚光傅立叶变换测试技术保证在短的焦距获得大量程，有效提高仪器的分辨能力；小探头排布，让2010拥有了超强的小颗粒测试能力。优越的自动对中系统及电脑操作系统彰显出JB2010-L人性化设计。
★高稳定光路优化：独具匠心的设计让JB2010-L拥有了先进的高稳定光路，它采用了高稳定、大功率光纤输出激光器，优良的配置使JB2010-L拥有了超强的稳定性；主要光路采取了全封闭设计，保证了仪器在复杂环境长时间测试。
★激光器功率监测及自动调整：采用了恒功率激光器，实时对激光功率进行检测并自动调整功能，有效避免长期使用造成的激光功率衰减的问题。同时采用了恒流恒压高滤波激光电源有效延长了激光器寿命，正常使用达3万小时以上。
★独特的干法分散系统：JB2010-L分散系统在法国理论数据的基础上进行了优化设计，使JB2010-L对干粉的分散更加均匀，超强的负压保证了进料的连续性及均匀性，有效避免测试过程中干粉的相互粘连。
★探测器：JB2010-L探测器采用了主探测器与副探测器结合的全新设计，保证了仪器全量程内无缝探测，使测试更加准确。主探测器设计了自动对中系统，可实现仪器的一键自动对中，彰显人性化设计。同时有效避免手动对中对探测器的损害，有效延长了仪器的使用寿命。
★防尘、防震设计：仪器整体进行了密封设计，大幅提高了内部元器件使用寿命。独特的悬浮式结构能有效避免外界震动对仪器的干扰，使结果测试更稳定可靠。
★光路自动校对：采用机械中心与光学中心相结合技术，光路自动调整定位更精确，达到微米级别；同时光路调整速度个更快捷15秒即可完成调整。自行研制的自动对中系统包括步进电机、精密导轨、精密控制器以及软件系统组成，步距0.2微米，保证激光束焦点始终从探测器中心点穿过，提高测试结果的准确性以及测试的重复性。自动对中系统是久滨所有型号激光粒度仪的标准配置。
★管道无残留：测试完成后管道内无残留样品，不会对下次测试造成干扰。
★计算机控制喂料：测试人员可借助计算机精准控制仪器进料量。
软件：符合药典GMP规定，具有电子签名、权限设置、数据追踪、数据不可更改等功能。
三、主要技术参数：

规格型号		JB2010-L
执行标准		ISO 13320:2009；GB/T19077-2016
测试范围		0.1μm -800μm
探测器通道数		76
准确性误差		＜1%（国家标准样品D50值）
重复性误差		<1%（国家标准样品D50值）
喂料方式		机械无级调速振动喂料，软件控制
无油静音空压机		具有粉尘过滤功能，保证测试准确性
冷干机		冷冻式干燥机可过滤空气中的水分，保证分散效果
误操作保护		仪器具备误操作自我保护功能，仪器对误操作不响应
激光器参数		进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm, p>10mW
分散方法		高压空气分散
操作模式		软件全自动控制操作
光路对中		光路自动校对
软件功能	分析模式	包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求
	统计方式	体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式
	统计比较	可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异，对工业原料质量控制具有很强的实际意义
	自行DIY模板	用户自定义要显示的数据，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等
	测试报告	测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果
	多语言支持	中英文语言界面支持，还可根据用户要求嵌入其他语言界面。
	智能操作模式	真正全自动无人干预操作，无人为因素干扰，您只需按提示加入待测样品即可，测试结果的重复性更好。
测试速度		<1min>
尺寸		980mm410mm450mm
重量		35Kg